Burn Test，Self-Servo writing,三星硬盤盤面固件區
硬盤在盤體與電路板裝配完畢后，需要將固件燒寫( burn-in)到ROM與盤面固件區，同時會生成一些參數保存到硬盤面固件區中。這些參數是通過“Burn Test”（也稱為Self-Servowriting，或Servo test，或Self-test）過程來生成的。過程首先檢測硬盤的區域分配Zoning、讀參數、寫參數等，然后對這些參數進行優化，最后寫到盤面固件區中。通過Burn Test每個盤都會生成自身的獨特參數。如果這些參數出錯，就會造成硬盤不能正常工作，如產生壞道、敲盤、讀寫變慢、數據出錯等。
三星硬盤廣泛使用了動態譯碼器機制與自適應區域分配表，這也意味著大量參數對于每個盤來說都是獨一無二的。為此三星設計了先進的自檢／自恢復機制，利用Burn Test可以在硬盤關鍵且唯一的模塊損壞時恢復對用戶數據區的訪問。需要注意的是，Burn Test主要用于修復硬盤而不能用來恢復數據。寫入測試腳本并執行測試前，需要備份硬盤的模塊和ROM。還需準備一個獨立電源，因為根據硬盤情況不同，測試可能耗時幾小時到幾天。
執行Burn Test需要將Burn代碼寫到硬盤上。這些代碼可以從網絡獲取或者從PC3000工具套件的數據庫中搜索得到。這里利用PC3000三星程序來描述Burn Test的運行。
對于VANGOPLUS，PANGO，VELOCE，PALO與MAGMA家族的硬盤，還有兩類代碼：“DownSize Burn Code”與“H/T Code”。H/T Code主要在硬盤使用當前ROM固件無法工作時用來恢復對固件區的訪問。
“DownSize Bum Code”主要用于在“Downsized”小型化型號中代替“Burn Code”。所謂DownSize，DS型號一般是指單盤容量小于40GB的硬盤。例如SP0612N型號（2頭），SP0802N（3頭），SP1203N（4頭）。因此需要運行Bum Test時，應當在數據庫中查找對應的資源，確定硬盤是否屬于小型化型號，若是，則加載DS代碼�！癉ownSize Burn Code”可以用于硬盤缺陷太多的情形。如果某型號硬盤在Burn Test結束之前出現缺陷表溢出錯誤，可以運行“Downsize Bum Code”來將硬盤縮減到其對應的“小型化”型號。
VANGOPLUS家族是PANGO家族的小型化型號，因此“Downsize”代碼是為前者設計的。若在運行Burn Test時程序在VANGOPLUS家族中找不到所需資源，可以嘗試在PANG0家族中查找資源并使用其中的DS代碼。
對于POSEIDON，P80M及以后家族硬盤的自檢，還要用到HTBI code與FFlash Code的固件資源。修改磁頭映射圖時，需要用到FFlash。
