硬盤寫入BURN資源，關(guān)閉硬盤電源并重新上電
對(duì)于VlIP, VICTOR, PUMA, VICTORPLUS, VERNA, VERNALITE, VANGO,zVANGOPLUS, PANGO, VELOCE, PALO, MAGMA, M40S, RUBICON以及P80A家族．硬盤執(zhí)行測(cè)試之前必須執(zhí)行下列步驟。
1．為硬盤寫入下列BURN資源
一“BURN-IN Script”（若數(shù)據(jù)庫中無可用腳本，需手動(dòng)將BISPT模塊頭從END改為BURN）：
一“Overlay”（僅VERNA，VERNALITE與VANGO家族需要）；
一“Bum Code”或“Downsize Burn Code”。
2．關(guān)閉硬盤電源并重新上電 ，
對(duì)于POSEIDON，P80M及以后的家族．執(zhí)行測(cè)試之前必須執(zhí)行下列步驟：
(1)測(cè)試之前寫“FFlash”固件到硬盤。
(2)關(guān)閉硬盤電源并重新上電。
(3) 編輯“BISPT”模塊頭（Burn test腳本），將其從END，F(xiàn)AIL或者CONT改為3L-RN。
(4) 寫“HTBI Code”到硬盤。
(5)關(guān)閉硬盤電源并重新上電。
之后硬盤將等待5分鐘并啟動(dòng)測(cè)試。等待與測(cè)試期間所有狀態(tài)寄存器處于非使能狀態(tài)。如果此期間發(fā)送軟復(fù)位信號(hào)，硬盤會(huì)切換到就緒狀態(tài)并可以訪問固件區(qū)，關(guān)閉電源再開啟后會(huì)重新啟動(dòng)測(cè)試。如果硬盤直接報(bào)告就緒，則BURN-IN腳本頭應(yīng)為END或FAIL。如果測(cè)試期間連接硬盤到終端，可以注意到運(yùn)行每一步測(cè)試與執(zhí)行一定操作時(shí)硬盤都會(huì)輸出一條信息，這些信息中的部分類似如下顯示：
BStep 00003 (Cmd 0024)：
BStep 00004 (Cmd 0069)：
BStep 00005 (Cmd 0069)：
BStep 00006 (Cmd 0069)：
BStep 00007 (Cmd 0069)：
BStep 00025 (Cmd 0010):Test head:OOTest zone:07Agc:0508Agc:OOAIAsc.
FFF2Test head: 01 Test zone: 07Agc: 0406Agc: 0080Asc: 000，
BStep 00026 (Cmd 0010)：
可以使用輔助的LED發(fā)光二極管監(jiān)控測(cè)執(zhí)行PC-3000三星程序中菜單“Tools”方便地監(jiān)控測(cè)試進(jìn)程（對(duì)SATA硬盤不可用）進(jìn)程和結(jié)束狀態(tài)。接法如圖3-4所示。“Utility extensions”一“Burn test”，可以測(cè)試結(jié)束后，硬盤的主軸停轉(zhuǎn)并且LED持續(xù)閃爍。也可以通過終端很容易地判斷測(cè)試是否結(jié)束：終端中硬盤恒定輸出“LED 00 0000”字符串。其中“LED”表示閃爍模式00應(yīng)該是結(jié)束代碼，其他值表示錯(cuò)誤。
如果Burn Test運(yùn)行很長時(shí)間（超過24小時(shí)）硬盤主軸仍未停轉(zhuǎn)，且沒有任何測(cè)試要結(jié)束的跡象，可以中止此測(cè)試，關(guān)閉硬盤電源并重新上電，發(fā)送軟復(fù)位信號(hào)到硬盤，然后可以利用BISPT的模塊頭檢測(cè)，查看測(cè)試狀態(tài)。如果模塊頭是CONT，則需繼續(xù)測(cè)試（需關(guān)閉硬盤電源并重新上電，不發(fā)送復(fù)位信號(hào)）；如果是END，則表示測(cè)試成功結(jié)束；如果FAIL，則表示測(cè)試由于出錯(cuò)已經(jīng)中止。
測(cè)試成功結(jié)束之后需關(guān)閉硬盤電源并重新上電，根據(jù)測(cè)試前加載的Burn Code向ROM回寫“Main Code”（對(duì)小型化DS型號(hào)需加載“Downsize Main Code”），加載后關(guān)閉硬盤電
源并重新上電，就可以工作了。
如果測(cè)試出錯(cuò)中止，則不可回寫“Main Code”，否則可能造成硬盤不再響應(yīng)任何請(qǐng)求。通過PC-3000三星程序“Tests”一“Service information”一“Work with BURN，，一。BURN TEST RESULT REPORT”菜單可以查看Burn Test測(cè)試結(jié)果報(bào)告，分析出錯(cuò)的原因。然后更換一份測(cè)試腳本再重新進(jìn)行測(cè)試。為此，需要向硬盤寫入BISPT模塊，將其頭部修改為
BURN，關(guān)閉硬盤電源并重新上電，測(cè)試即可從開始重新啟動(dòng)。
